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HEIG-VD | 02 sept. 2016

Félicitations pour le prix du concours d’images et de posters de la conférence internationale 2016 Euro AFM Forum

Félicitations pour le prix du concours d’images et de posters de la conférence internationale 2016 Euro AFM Forum
Fonctionnaliser des matériaux par l’impression de molécules sur des surfaces pour développer des capteurs biochimiques, tel est l’objectif du COMATEC-LANS (Laboratory of Applied NanoSciences) de la HEIG-VD dans le cadre de projets collaboratifs menés ensemble avec d’autres partenaires de la HES-SO du programme Diagnostic Biochips. La présentation de premiers résultats des mesures par microscopie à force atomique (AFM) a été distinguée par un prix dans le concours d’images AFM et de posters lors d’une conférence internationale.

Fonctionnaliser des matériaux par l’impression de molécules sur des surfaces pour développer des capteurs biochimiques, tel est l’objectif d’une équipe du COMATEC-LANS (Laboratory of Applied NanoSciences) de la HEIG-VD dans le cadre de projets collaboratifs menés ensemble avec d’autres partenaires de la HES-SO du programme Diagnostic Biochips.

ImageAFM_10x10microns_sAfin de pouvoir optimiser les techniques et procédés de fabrication de capteurs à développer, l’équipe du COMATEC-LANS, sous la direction de Prof. Dr. Silvia Schintke, étudie des assemblages de molécules –par exemple semblables à des branches de l’ADN- à l’aide de la microscopie à force atomique (AFM), ceci pour plusieurs types de capteurs et en comparant différentes techniques de fonctionnalisation. Ces mesures AFM, basées sur un balayage contrôlé d’une sonde très fine en proximité d’une surface, permettent en particulier d’analyser des micro- et nanostructures présentes à la surface des matériaux et des capteurs et de visualiser et d’optimiser ainsi les assemblages des molécules.

Narcis Fosso, l’ingénieur au sein du COMATEC-LANS de la HEIG-VD a récemment présenté des premiers résultats de ces recherches à la conférence internationale 2016 Euro AFM Forum et y emporté le 3ème prix du concours d’images AFM et de posters avec la contribution « Inkjet-printed aptamers studied by non-contact atomic force microscopy » [1].

Nos félicitations vont à Monsieur Fosso et à toute l’équipe des ingénieur-e-s et chercheur-e-s impliqué-e-s de la HEIG-VD et de la HES-SO Valais pour ce beau succès.

[1] Narcis Fosso, Charles Tematio, Jane Krähenbühl, Mascha Pusnik, Origène Nyanguile, and Silvia Schintke, Inkjet-printed aptamers studied by non-contact atomic force microscopy, Euro AFM Forum 2016, 22-24 June 2016, Geneva.

Contact : Prof. Dr. Silvia Schintke, HEIG-VD, Laboratory of Applied NanoSciences (COMATEC-LANS)

silvia.schintke@heig-vd.ch

www.comatec-lans.ch